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[大理石平臺(tái)]大理石平臺(tái)的平整度誤差測量常用方法!

來源:深圳市富瑞聯(lián)華科技有限公司 作者:大理石檢驗(yàn)平臺(tái)發(fā)布時(shí)間:2019-10-25 09:16:33
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我們考慮過驗(yàn)證大理石平臺(tái):的特性(平整度)和平滑度(即平整度)。大理石平臺(tái)的平面度誤差是指理想平面因測實(shí)際表面而產(chǎn)生的變化量。
[大理石平臺(tái)]大理石平臺(tái)的平整度誤差測量常用方法!
 
通過測實(shí)際表面將大理石平臺(tái)的平面度誤差與理想平面進(jìn)行比較,兩者之間的線值距離為平面度誤差值;或通過測量實(shí)際表面上幾個(gè)點(diǎn)的相對高度差,然后轉(zhuǎn)換為直線,用該值表示平整度誤差值。
 
大理石平臺(tái)校準(zhǔn)
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大理石平臺(tái)的平整度誤差測量常用方法如下:
 
1、 平晶干涉法:理想平面由光學(xué)器件平晶的工作表面表示,被測表面的平整度誤差值直接由干涉條紋的彎曲程度確定。它主要用于測量刻面的平面度,例如量規(guī)的工作表面和測微頭的測量表面。
 
2、工作臺(tái)尺寸法:工作臺(tái)尺寸法是將要測試的零件和千分尺放置在標(biāo)準(zhǔn)板上,使用標(biāo)準(zhǔn)板作為測量參考表面,使用千分尺沿著實(shí)際表面逐點(diǎn)或垂直移動(dòng)。沿?cái)?shù)個(gè)線的方向進(jìn)行測量。根據(jù)評(píng)估基準(zhǔn),表測量法分為三個(gè)點(diǎn)法和角線 法:三個(gè)點(diǎn)法是由距測實(shí)際表面最遠(yuǎn)的三個(gè)點(diǎn)確定的理想平面。作為評(píng)估基準(zhǔn),實(shí)際測量將首先將距離測實(shí)際表面最遠(yuǎn)的三個(gè)點(diǎn)調(diào)整為與標(biāo)準(zhǔn)板相同的高度;對于角線 法,將首先單擊實(shí)際表面上的四個(gè)角。 角線調(diào)整為兩個(gè)或兩個(gè)輪廓。然后用千分尺進(jìn)行測量,并且由千分尺在整個(gè)實(shí)際表面上測得的最大變化是實(shí)際表面的平整度誤差。
 
3、液位法:液位法是用作測量參考面的液位。液位由“連接罐”中的液位組成,然后由傳感器測量。 法主要用于測量大平面的平面度誤差。
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4、光束平面法:光束平面法是使用準(zhǔn)值望遠(yuǎn)鏡和瞄準(zhǔn)目標(biāo)的測量。選擇由在實(shí)際表面上彼此最遠(yuǎn)的三個(gè)點(diǎn)形成的光束平面作為平坦度誤差的測量參考平面。
 
除了上述法可測量的平面度誤差外,還有一個(gè)平面干涉儀、電平、自準(zhǔn)直儀,用于測量大型大理石平臺(tái)平面的平面度誤差。

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